國創科儀 多功能X射線吸收譜儀SuperXAFS M9000

核心參數

1.能量范圍：4.5-20keV

2.樣品處光通量：≥1×10? photons/s @7-9 keV

3.能量分辨率：0.5-1.5 eV@7-9 keV

4.能量重復性：≤30 meV@24h

5.調節機構精度：能量掃描最小步長0.1eV

工作模式

1.支持近邊快掃功能。

2.支持透射/熒光模式吸收譜、發射譜。

功能亮點

1.定制多樣品自動采集，減少進樣次數。

2.提供標樣數據庫，簡化用戶分析。

3.支持原位場景定制，提供吸收譜專業數據解析指導。

國創科儀 多功能X射線吸收譜儀SuperXAFS M9000

X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。該技術利用 X 射線與物質的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴展遠邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發射譜，分別用于分析元素的化學狀態和價態、原子周圍局部環境的配位結構，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態和非晶態材料微觀配位結構的重要手段。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環境污染物、各類晶態和非晶態材料及生物樣品內金屬離子的價態、配位結構及電子狀態分析，以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態演化過程研究等。